MKL系列倒置金相顯微鏡 本顯微鏡是用于鑒別和分析金屬內部的結構組織，為金屬物理學研究金相的重要工具，特別是鋼鐵、鍋爐、礦山、機床、工具、汽車、造船、軸承、柴油機、農機等工業(yè)部門鑒定產品質量的關鍵設備。凡鑄造、冶煉、熱處理的質量研究、原材料的檢驗或材料處理后的分析等均可使用本儀器。該儀器可配用攝像裝置，攝取金相圖譜。具有對圖譜進行測量、分析、編輯、輸出、存儲、管理等功能。

銷售微分干涉金相顯微鏡 該款微分干涉顯微鏡的設計原理是以平面偏振光為光源，光線經棱鏡折射后分成兩束，在不同時間經過樣品的相鄰部位，然后經過另一棱鏡將這兩束光匯合，從而樣品中厚度上的微小差別就會轉化成明暗區(qū)別，增加了樣品反差，造成了三維立體感。

蘇州微分干涉金相顯微鏡 該款微分干涉顯微鏡的設計原理是以平面偏振光為光源，光線經棱鏡折射后分成兩束，在不同時間經過樣品的相鄰部位，然后經過另一棱鏡將這兩束光匯合，從而樣品中厚度上的微小差別就會轉化成明暗區(qū)別，增加了樣品反差，造成了三維立體感。

微分干涉金相顯微鏡供應 該款微分干涉顯微鏡的設計原理是以平面偏振光為光源，光線經棱鏡折射后分成兩束，在不同時間經過樣品的相鄰部位，然后經過另一棱鏡將這兩束光匯合，從而樣品中厚度上的微小差別就會轉化成明暗區(qū)別，增加了樣品反差，造成了三維立體感。

正置金相顯微鏡供應MKL系列正置是針對半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的，作為高級用戶在使用時能夠體驗其*性能，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。本儀器采用了反射和透射兩種照明形式，在反射光照明下可進行明暗場觀察和DIC觀察、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。穩(wěn)定、高品質的光學系統(tǒng)使成像更清晰

金相分析圖譜供應 根據(jù)國家標準GB 10651-89，美國標準 ASTM：E45-87，主要適用于經過延伸變形（如軋制、鍛造、冷拔等）的鋼材中非金屬夾雜物的顯微評定。檢驗夾雜物一般同時檢驗幾種類型的夾雜并經常進行淬火處理。鋼中主要的元素是鐵，但并非純鐵，其中會含有一定的雜質，雜物共有四種，分為A、B、C、D四類，A代表硫化物，B代表氧化鋁，C代表硅酸鹽類，D代表球狀氧化

倒置金相顯微鏡供應 本顯微鏡是用于鑒別和分析金屬內部的結構組織，為金屬物理學研究金相的重要工具，特別是鋼鐵、鍋爐、礦山、機床、工具、汽車、造船、軸承、柴油機、農機等工業(yè)部門鑒定產品質量的關鍵設備。凡鑄造、冶煉、熱處理的質量研究、原材料的檢驗或材料處理后的分析等均可使用本儀器。該儀器可配用攝像裝置，攝取金相圖譜。具有對圖譜進行測量、分析、編輯、輸出、存儲、管理等功能。